Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej ogłasza przetarg
- Adres: 02-507 Warszawa, ul. Wołoska 141
- Województwo: mazowieckie
- Telefon/fax: tel. 22 2348729, 2348741 , fax. 22 2348514
- Data zamieszczenia: 2013-10-10
- Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe
Sekcja I - Zamawiający
- I.1. Nazwa i adres: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej
ul. Wołoska 141 141
02-507 Warszawa, woj. mazowieckie
tel. 22 2348729, 2348741, fax. 22 2348514
REGON: 00000155400000 - I.2. Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna
Sekcja II - Przedmiot zamówienia, przetargu
- II.1. Określenie przedmiotu zamówienia
- II.1.1. Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Przenośny fluorescencyjny spektrometr rentgenowski (XRF), oznaczenie sprawy WIM/ZP/24/2013 - II.1.2. Rodzaj zamówienia: dostawy
- II.1.3. Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
1. Przedmiotem zamówienia jest: dostawa przenośnego fluorescencyjnego spektrometru rentgenowskiego (XRF). 2.Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia zawarty jest w załączniku nr 1 do SIWZ - Opis przedmiotu zamówienia. 3. Oferowany sprzęt musi być fabrycznie nowy (nieużywany) o najwyższej jakości, spełniający wymogi bezpieczeństwa. 4. W celu sprawdzenia czy oferowany spektrometr spełnia wymagania Zamawiającego, Wykonawca zobowiązany jest dołączyć do oferty szczegółowe opisy techniczne oferowanego urządzenia lub potwierdzone za zgodność z oryginałem przez Wykonawcę prospekty (karty katalogowe, foldery informacyjne itp. pochodzące od producenta sprzętu) potwierdzające spełnianie wymogów postawionych przez Zamawiającego. 5. Usługi serwisowe. Warunki serwisu gwarancyjnego: 1) w okresie gwarancji Wykonawca zapewni serwis gwarancyjny bez dodatkowego wynagrodzenia; 2) usługi serwisowe sprzętu winny być dokonywane przez producenta sprzętu lub przez jego Autoryzowanego Partnera Serwisowego; 3) maksymalny termin na naprawę - w ciągu 5 dni od zgłoszenia awarii (listownie, faksem lub e-mailem); jeżeli z jakiegokolwiek powodu leżącego po stronie Wykonawcy nie usunie on wad (usterek) w wyznaczonym terminie, zobowiązany będzie w ciągu 14 dni wymienić sprzęt na nowy wolny od wad i usterek; 4) wszystkie naprawy odbywać się będą u Zamawiającego w miejscu dostawy; w przypadku konieczności napraw poza siedzibą Zamawiającego w miejscu dostawy, Wykonawca dostarczy na żądanie użytkownika na czas naprawy sprzęt zastępczy, o parametrach nie gorszych niż używany;5) okres gwarancji ulega przedłużeniu o czas napraw; 6) po trzech bezskutecznych naprawach tego samego elementu, Wykonawca w ciągu 14 dni wymieni sprzęt na nowy i przekaże Zamawiającemu nową kartę gwarancyjną; 7) okres gwarancji biegnie na nowo dla sprzętu (elementu) wymienionego. - II.1.4. Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 384332104
- II.1.5. Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej: nie
- II.1.6. Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: nie
- II.1.7. Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: nie
- II.2. Czas trwania zamówienia lub termin wykonania: 35 dni
Sekcja III - Informacje o charakterze prawnym, ekonomicznym, finansowym i technicznym
- III.1. Warunki dotyczące zamówienia
- Informacja na temat wadium: w niniejszym postępowaniu wadium nie jest wymagane
Sekcja IV - Procedura przetargowa
- IV.1. Tryb udzielenia zamówienia
- IV.1.1. Tryb udzielenia zamówienia: przetarg nieograniczony
- IV.2. Kryteria oceny ofert
- IV.2.1. Kryteria oceny ofert: Parametry techniczne
- IV.3. Informacje administracyjne
- IV.3.1. Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia: www.zamowienia.pw.edu.pl/wykaz/
- IV.3.5. Termin związania ofertą, okres w dniach: 30 (od ostatecznego terminu składania ofert)
Zobacz następny przetargZobacz poprzedni przetargPobierz ofertę w pliku pdfPowrót na stronę główną
Podobne ogłoszenia o przetargach
- Dostawa czytnika płytkowego fluorescencji z funkcją pomiarów anizotropii fluorescencji oraz dozowania reagentów wraz z dedykowanym stanowiskiem do procesowania danych dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego
Dodano: 2016-04-13 - Dostawa, instalacja i uruchomienie nowego spektrometru fluorescencji rentgenowskiej do nieniszczącej analizy stopów metali szlachetnych.
Dodano: 2016-04-11 - Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego, nieużywanego spektrometru emisyjnego typu Spectroil M wraz z robotem - 1 kpl.
Dodano: 2013-11-26 - Dostawa do siedziby Zamawiającego fabrycznie nowego, nieużywanego: a) spektrometru emisyjnego typu Spectroil M wraz z robotem (część I zamówienia), b) automatycznego gęstościomierza do badań olejów zużytych (część II zamówienia).
Dodano: 2013-10-25 - Przenośny fluorescencyjny spektrometr rentgenowski (XRF), oznaczenie sprawy WIM/ZP/11/2013
Dodano: 2013-06-13