Przetargi.pl
DOSTAWA MIKROSKOPOWEGO SYSTEMU DO POMIARU PARAMETRÓW (GRUBOŚĆ, TRANSMISJA, ABSORBANCJA) WARSTW OPTYCZNYCH Z INSTALACJĄ I SZKOLENIEM

Wojskowa Akademia Techniczna ogłasza przetarg

  • Adres: 00-908 Warszawa, ul. Kaliskiego 2
  • Województwo: mazowieckie
  • Telefon/fax: tel. 022 6837865 , fax. 022 6837977
  • Data zamieszczenia: 2011-08-18
  • Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe

Sekcja I - Zamawiający

  • I.1. Nazwa i adres: Wojskowa Akademia Techniczna
    ul. Kaliskiego 2 2
    00-908 Warszawa, woj. mazowieckie
    tel. 022 6837865, fax. 022 6837977
    REGON: 01212290000000
  • Adres strony internetowej zamawiającego: www.wat.edu.pl
  • I.2. Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Sekcja II - Przedmiot zamówienia, przetargu

  • II.1. Określenie przedmiotu zamówienia
  • II.1.1. Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
    DOSTAWA MIKROSKOPOWEGO SYSTEMU DO POMIARU PARAMETRÓW (GRUBOŚĆ, TRANSMISJA, ABSORBANCJA) WARSTW OPTYCZNYCH Z INSTALACJĄ I SZKOLENIEM
  • II.1.2. Rodzaj zamówienia: dostawy
  • II.1.3. Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
    1.1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopowego systemu do pomiaru parametrów (grubość, transmisja, absorbancja) warstw optycznych z instalacją i szkoleniem. 1. Stabilny statyw w konfiguracji mikroskopu odwróconego 2. 4 porty optyczne: 1 do nasadki okularowej oraz 3 porty do podłączenia innych urządzeń 3. Możliwość dobudowy dwóch dodatkowych portów 4. Zmieniacz powiększeń 1,5X 5. Zakres ruchu w osi Z: 8 mm 6. Możliwości montażu okularów o powiększeniach: 10x, 12,5x i 15x 7. Śruby ustawiania ostrości widzenia MIKRO/MAKRO z regulacją oporu ruchu 8. Układu fluorescencji 12-sto gniazdowej montowany w mikroskopie w sposób kaskadowy jedna nad drugą po 6 gniazd w piętrze, z dwoma niezależnymi wejściami do każdego z gniazd 9. Możliwość montażu nasadek bino i trinookularowych 10. Możliwość motoryzacji układu ostrości Z i stołu X-Y 11. Miska obiektywowa 6-cio gniazdowa 12. Stolik mechaniczny X-Y o zakresie ruchu 126x84mm 13. Możliwość obserwacji w technikach Jasne, Ciemne Pole, Fluorescencja, 14. Układ oświetlenia do światła przechodzącego i odbitego z lampą halogenową o mocy 100W 15. Gniazda do montażu filtrów konwersyjnych światła 16. Zestaw obiektywów o parametrach nie gorszych niż: a) CFI LU Plan FLUOR Epi 10X, (NA/WD : 0.30/17.50mm) b) CF LU Plan FLUOR Epi 50X, (NA/WD : 0.80/1.00mm) c) CF LU Plan FLUOR Epi 100X, (NA/WD : 0.90/1.00mm) 17. Kamera kolorowa o parametrach nie gorszych a. Głowice z matrycą CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5,07 mln efektywnych pikseli b. Czas ekspozycji 1/1000 - 60 sekund c. Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna; d. Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy e. Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli f. Format zapisu: BMP, TIFF, JPEG, JPEG2000 g. Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż i. 2560 x 1920 - 4.4 klatek/sekundę ii. 1280 x 960 - 12 Klatek/sekundę iii. 640 x 480 - 12 Klatek/sekundę h. Przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza FireWire typ B i. Pojedynczy sterownik z możliwością obsługi dwóch głowic z możliwością ich przełączania w oprogramowaniu do analizy obrazu 18. Stół optyczny specjalizowany 19. Oprogramowanie do analizy obrazu: a. Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji b. W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia c. archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów, d. pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych), e. możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego f. pomiary ręczne na obrazie żywym (nie zamrożonym), g. manualne pomiary: np. pola powierzchni, długości, średnic (średniej, Fereta), obwodu, kąta, h. łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego i. wbudowana baza danych obiektywów producenta mikroskopu i zestaw sterowników do jego zdalnej kontroli j. automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu k. statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach), l. generowanie dowolnych raportów z pomiarów wraz z obrazem w wewnętrznym edytorze, m. praca w środowisku Windows XP i Vista, oraz Windows 7 w wersjach 32 i 64 bit
  • II.1.4. Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 331140002
  • II.1.5. Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej: nie
  • II.1.6. Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: nie
  • II.1.7. Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: nie
  • II.2. Czas trwania zamówienia lub termin wykonania: 56 dni

Sekcja IV - Procedura przetargowa

  • IV.1. Tryb udzielenia zamówienia
  • IV.1.1. Tryb udzielenia zamówienia: przetarg nieograniczony
  • IV.2. Kryteria oceny ofert
  • IV.2.2. Wykorzystana będzie aukcja elektroniczna: nie
  • IV.3. Informacje administracyjne
  • IV.3.1. Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia: www.wat.edu.pl
  • IV.3.5. Termin związania ofertą, okres w dniach: 30 (od ostatecznego terminu składania ofert)

Zobacz następny przetargZobacz poprzedni przetargPobierz ofertę w pliku pdfPowrót na stronę główną

Podobne ogłoszenia o przetargach